Dois conjuntos de valores de medições, C1 e C2, realizadas
sobre um mesmo objeto foram obtidos por meio de dois
procedimentos distintos, respectivamente P1 e P2, em condições
completamente especificadas. Em seguida, calculou-se o
desvio-padrão a partir dos valores de medições obtidas a partir de
cada um dos dois procedimentos, obtendo-se os desvios-padrão
de valores s1 e s2, respectivamente, para os conjuntos de valores
C1 e C2, e constatou-se que s1 < s2.
Com base na situação hipotética precedente e em noções de metrologia, julgue o item a seguir.
Pelos dados da situação em apreço, conclui-se que o procedimento P1 permite obter valores de medição mais exatos que o procedimento P2.
Com base na situação hipotética precedente e em noções de metrologia, julgue o item a seguir.
Pelos dados da situação em apreço, conclui-se que o procedimento P1 permite obter valores de medição mais exatos que o procedimento P2.
