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#3691499

A qualidade da imagem obtida por um microscópio eletrônico está diretamente relacionada à relação sinal ruído (S/N). Quanto maior a S/N, melhor a nitidez da imagem.
Alguns procedimentos aumentam a relação S/N, entre eles 

  • aumentar a taxa de varredura (scan rate) do feixe de elétrons na amostra.
  • aumentar a distância de trabalho (WD -Working distance), aumentando assim a largura do spot.
  • substituir a fonte de elétrons de tungstênio (W) por uma FEG(Field Emission Gun).
  • ajustar o ganho eletrônico do detector no máximo.
  • não utilizar frameaveraging.
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