A o contraste composicional (também conhecido por contraste de número atômico) e a análise da distribuição dos elementos na superfície da amostra são baseados na detecção de elétrons secundários.
B o contraste topográfico e a análise morfológica da superfície da amostra são baseados na detecção de elétrons retroespalhados e na posição do seu detector.
C o tipo de canhão de emissão de elétrons, termiônico ou de emissão de campo (FEG), não influencia na resolução do ensaio.
D para melhorar a resolução da análise deve-se aumentar a distância de trabalho, aumentar o brilho e diminuir o diâmetro da abertura da objetiva.
E para melhorar a resolução da análise deve-se diminuir a distância de trabalho, aumentar o brilho e aumentar o diâmetro da abertura da objetiva.