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#1852992

A difratometria de raios X é uma técnica de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, com aplicações em diversos campos do conhecimento. A respeito dessa técnica, é correto afirmar que

  • a aplicação da difração de raios X é limitada à identificação de compostos cristalinos inorgânicos.
  • a intensidade de difração de raios X depende do número de prótons dos átomos em um dado plano cristalino.
  • as condições para que ocorra a difração de raios X são expressas pela lei de Bragg.
  • as condições para que ocorra a difração de raios X são expressas pela lei de Lambert-Beer.
  • os raios X, ao atingirem um material, são elasticamente espalhados, ocorrendo perda de energia pelos elétrons de um átomo.
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