A Tamanho do ponto focal, temperatura do sistema de processamento, integridade das telas e chassis, condições dos negatoscópios.
B Tamanho do ponto focal, contato tela-filme, alinhamento de grade, integridade das telas e chassis, condições dos negatoscópios.
C Exatidão do indicador de tensão do tubo, temperatura do sistema de processamento, alinhamento de grade, integridade das telas e chassis, condições dos negatoscópios.
D Exatidão do sistema de colimação, contato tela-filme, alinhamento de grade, integridade das telas e chassis, condições dos negatoscópios.
E Exatidão do indicador de tensão do tubo, exatidão do tempo de exposição, quando aplicável, camada semiredutora, alinhamento do eixo central do feixe de raios-X.