A O TEM é utilizado para obter imagens tridimensionais da superfície das amostras, enquanto o SEM é usado para visualizar a estrutura interna dos materiais.
B No TEM, os elétrons interagem principalmente com a superfície da amostra, enquanto, no SEM, os elétrons atravessam a amostra para formar a imagem.
C O TEM requer amostras extremamente finas, enquanto o SEM pode ser usado em amostras bulk sem necessidade de cortes ultrafinos.
D No TEM, os elétrons secundários são responsáveis pela formação da imagem, enquanto, no SEM, a imagem é gerada por elétrons transmitidos.
E O SEM utiliza uma fonte de raios X para gerar imagens, enquanto o TEM baseia-se na luz visível.